交付日期:2023年10月20日
客户单位:南京工业大学
交付产品:TLRH系列精密型基础测试探针台
• 真空卡盘直径:4英寸
• 样品台位移精度:<3μm
• 探针座位移精度:<3μm
• 漏电流精度:<100fA
• 兼容多种光学显微镜
该探针台系统可外引光路实现光电Mapping测试,是半导体材料或器件电学测试的理想选择。
• 模块化设计,可以搭配不同构件完成不同测试;
• 最大可用于12寸以内样品测试;
• 探针台整体位移精度高达3μm,样品台精密四维调节;
• 兼容多种光学显微镜,可外引光路实现光电Mapping测试;
• 满足1µm以上电极/PAD使用;
• 漏电精度可达10pA/100fA(屏蔽箱内);
• 探针座采用进口交叉滚珠导轨,线性移动,无回程差设计;
• 加宽探针放置架,可放置6个DC探针座/4个RF探针座;
• 配显微镜二维精密调节功能,且可选配多种行程及驱动方式。
多被用于科研院校搭建测试系统,例如:材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统等等。
公司可根据客户实际需求定制配套的探针台,以达到更好的测试效果和性价比,具体可各平台咨询客服。