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二维平移光谱响应度测试探针台是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。
TLRS系列简易型基础测试探针台是我司根据产业用户生产检测需要，而特定设计的一款简易便携高性价比探针台，满足产线基本电学参数测试同时兼顾低成本优势，已成为工业生产领域批量检测的理想之选。
TLPH系列精密型光电测试探针台是基于TLRH系列升级激光显微镜而来，实现高分辨率成像的同时兼顾外引激光光路，实现光电流与IV的双功能检测，是光电芯片/器件测试的理想之选。
TLRB系列标准型基础测试探针台是我司根据高校科研及产业研发需要，而开发设计的一款高性价比探针台系统，其功能齐全，满足常规IV电学测试需要，广泛应用于芯片、半导体材料/器件等光电相关领域。
高低温真空探针台系统主要用于为被测芯片提供一个低温或者高温的变温测量环境，以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件因接触空气所带来的测试结果误差，是材料学、芯片、半导体器件等方向实验分析的理想选择。
TLRB系列标准型基础测试探针台是我司根据高校科研及产业研发需要，而开发设计的一款高性价比探针台系统，其功能齐全，满足常规IV电学测试需要，广泛应用于芯片、半导体材料/器件等光电相关领域。
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